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　　殘余奧氏分析儀比以往歷代殘余應力分析儀較快速、精度較高，提供的數據較可靠。XstressDR45的檢測速度和準確性使殘余應力測量方面大大*出了實(shí)驗室范圍，并進(jìn)入了生產(chǎn)線(xiàn)。直觀(guān)、簡(jiǎn)捷的界面的，全新支持軟件與全新技術(shù)相結合，可提供的工作效率。
 

　　殘余奧氏分析儀的主要特點(diǎn)：
 

　　1、可測奧氏體220/311、鐵素體200/211的衍射峰值強度，符合ASTME975-03國際標準；
 

　　2、多衍射峰測量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向帶來(lái)的影響；
 

　　3、使用精密的自動(dòng)反饋控制電路獲得*的X射線(xiàn)發(fā)生器穩定性；
 

　　4、自動(dòng)調整高電壓與電流輸出脈動(dòng)值；
 

　　5、配備大功率、上等的玻璃(陶瓷)X射線(xiàn)管；
 

　　6、高聚焦單毛細管準直器，高分辨率CCD探測器。
 

　　在許多工業(yè)生產(chǎn)加工過(guò)程中，對殘余奧氏體含量的控制非常嚴格，精確測量其含量，對于鋼鐵熱處理過(guò)程中產(chǎn)品特性和質(zhì)量的控制有重大意義。因為化學(xué)蝕刻和傳統金相研究存在靈敏度和準確度較低的情況，所以無(wú)法做到工業(yè)生產(chǎn)中對殘余奧氏體的精確測量，而X射線(xiàn)衍射法可以測量低至0.5%的殘余奧氏體含量，故ASTM頒布E975標準方法：X射線(xiàn)法測量近無(wú)規結晶取向鋼中殘余奧氏體的含量，AreXD正是根據此標準設計開(kāi)發(fā)。